TEM固體熱-電樣品桿在實(shí)驗(yàn)中有什么作用?

更新時(shí)間:2021-04-27      點(diǎn)擊次數(shù):2512
  TEM固體熱-電樣品桿是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)基礎(chǔ)上搭建兩電極反饋控溫的加熱模塊、兩電極電學(xué)模塊,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)樣品的皮米級(jí)高分辨成像。能夠在透射電鏡(TEM)內(nèi)為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)(例如原子結(jié)構(gòu))在氣氛環(huán)境中的演變過(guò)程,以直接揭示樣品結(jié)構(gòu)與其氣固界面反應(yīng)性質(zhì)之間的科學(xué)關(guān)系。有效提升科研人員科研水平,極大拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍。 

  加熱模塊:精準(zhǔn)、均勻、安全控溫,溫度精度優(yōu)于0.1K,最高溫度1300℃。通過(guò)精確熱場(chǎng)模擬及芯片設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)無(wú)漂移加熱過(guò)程,可在加熱升溫過(guò)程中實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)觀測(cè)成像。

  電學(xué)(偏壓)模塊:實(shí)現(xiàn)電熱外場(chǎng)耦合反應(yīng)。通過(guò)電極施加電場(chǎng),對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行外場(chǎng)控制并進(jìn)行電學(xué)性質(zhì)的測(cè)量。通過(guò)電學(xué)控制器對(duì)樣品施加偏壓,配合電學(xué)系統(tǒng)控制程序用于保證微反應(yīng)系統(tǒng)穩(wěn)定可靠運(yùn)行的最基本要求,滿(mǎn)足每一臺(tái)系統(tǒng)設(shè)備的微環(huán)境—電流電壓添加及實(shí)時(shí)測(cè)量,以及實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程智能反應(yīng)條件管理控制功能。該控制程序非常適合各種現(xiàn)代電子器件的電流、電壓特性分析和功能測(cè)試:功率半導(dǎo)體材料、功率器件、電化學(xué)、能源生產(chǎn)、高效能源消耗等。溫度高于800℃亦可同時(shí)進(jìn)行加熱和電學(xué)實(shí)驗(yàn),且保持穩(wěn)定。

 

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